NANOTEC社 Cervantes SPM System

NANOTEC社 SPM
（高機能・高分解能プローブ顕微鏡）

Cervantes SPM Unit
 

　スペインNANOTEC社製の高性能、高分解能SPMの販売を開始いたしました。

　本SPMは溶液中でも原子分解能を持ち(FM-AFM)、また生体試料の溶液中観察に 最適なジャンピングモード(オリジナル)を標準搭載しています。

　環境制御チャンバーは測定時の湿度、雰囲気制御が可能です。 自動ドリフト補正機能が付いた高い安定性があるシステムです。 また、様々なメーカーのカンチレバーに対応できるホルダーも用意いたしました。

Dulcinea SPM Controller
 

　SPMを高精度に制御を行うコントローラです。コントローラ単体でのご購入も可能で、 自作のSPMにもフレキシブルに対応します。

 

NANOTEC社 SPMの特長

  • 溶液中で原子分解能を実現しています。
  • 豊富な計測モードに対応しています。
    • AFM
      • コンタクトモード
      • ダイナミックモード
      • ジャンピングモード(パルスフォースモード)
      • 周波数変調AFM(FM-AFM)
      • フォース測定
      • フォースボリューム
      • 摩擦力モード(LFM)
    • STM
      • STM/CITS
    • 電気的特性
      • KFM
      • Conductivity
      • EFM
    • ナノリソグラフ
    • ナノマニピュレーション
  • 環境制御チャンバーで様々な雰囲気下での計測に対応します。
  • 用途に応じたオプション製品が豊富に用意されています。

高分解能AFM像

 
Au (111):
LATERAL FORCE in air
 
HOPG:
TOPOGRAPHY in air

“液中”でマイカ表面の原子像の観察に成功！

世界最高水準の溶液中原子分解能を持った原子間力顕微鏡です。
 

FM-AFM topography images of true atomic resolution of a mica surface immersed in liquid.

The images have been obtained with Dulcinea Controller and a new Nanotec Lanza Head.


壊れやすい生体試料はジャンピングモードで！

ジャンピングモードとは、探針による試料の横方向への破壊を最小限にし、柔らかい生物試料や粘着性のあるサンプルに対応します。下の例は、DNAを溶液中で観察した結果で、高さが1.8nmと本来の2.0nmに近い高さで観察されています。

その他、やわらかいタンパク試料などの観察にも最適です。
 

DNA in liquids in Dynamic and Jumping mode.

The difference is in the height: 0.8nm (pressed) in dynamic and 1.8 (nearer real) in Jumping.


環境制御チャンバーで様々な雰囲気下での計測に対応！

特殊な条件下でも対応が可能な各種装置を用意しております。

その他にも数多くのオプション製品を準備しておりますので、是非お問い合わせください。
 
ガス雰囲気装置
高真空装置

Basic AFM

価格を抑えながらも、多くのAFM測定モードを網羅する。

スキャナは、狭範囲用（10um x 10um）と広範囲用（70um x 70um）から選択。

計測モード

*AFM : Contact mode、Dynamic mode、Jumping mode、Frequency Modulation、Force Mapping、Lateral Force mode
Mini Stage

簡易除振機能付き
AFM Head

標準AFMヘッド
Cantilever Holder and Cantilever Exchange Bay

ヘッドへの固定が簡易（磁石による）なカンチレバーホルダーとカンチレバー交換用ベイ
Short Scanner or Long Scanner

ショートスキャナ（10um x 10um x 2um）、ロングスキャナ（70um x 70um x 12um）からどちらか選択
Dulcinea Control System with PC

コントローラー、および制御PC
Dynamic Force Control Card

ACモード、FM-AFM、MFM、electrostatic study、SNOMに対応

Standard AFM

安定性、操作性を向上し、雰囲気制御可能なスタンダードモデル。

計測モード

*AFM : Contact mode、Dynamic mode、Jumping mode、Frequency Modulation、Force Mapping、Lateral Force mode
Classic Stage

簡易除振機能付き
グラスカバー

ガス雰囲気制御、防音用
XY Movement AFM Head

XY移動ステージ付き(探針とサンプルの位置調整)
Cantilever Holder and Cantilever Exchange Bay

ヘッドへの固定が簡易（磁石による）なカンチレバーホルダーとカンチレバー交換用ベイ
Short Scanner

ショートスキャナ(10um x 10um x 2um)
Long Scanner

ロングスキャナ(70um x 70um x 12um)
Dulcinea Control System with PC

コントローラー、および制御PC
Dynamic Force Control Card

ACモード、FM-AFM、MFM、electrostatic study、SNOMに対応

Standard MFM

MFM計測を可能としたスタンダードモデル。

計測モード

*AFM : Contact mode、Dynamic mode、Jumping mode、Frequency Modulation、Force Mapping、Lateral Force mode

*MFM
Classic Stage

簡易除振機能付き
グラスカバー

ガス雰囲気制御、防音用
XY Movement MFM Head

XY移動ステージ付き(探針とサンプルの位置調整)
MFM Cantilever Holder and Cantilever Exchange Bay

磁気を用いないカンチレバーホルダーとカンチレバー交換用ベイ
Short Scanner

ショートスキャナ(10um x 10um x 2um)
Long Scanner

ロングスキャナ(70um x 70um x 12um)
Dulcinea Control System with PC

コントローラー、および制御PC
Dynamic Force Control Card

ACモード、FM-AFM、MFM、electrostatic study、SNOMに対応

Standard STM

STM計測スタンダードモデル。

計測モード

*STM : STM、CITS
Classic Stage

簡易除振機能付き
STM Head
Short Scanner

ショートスキャナ(10um x 10um x 2um)
Long Scanner

ロングスキャナ(70um x 70um x 12um)
Dulcinea Control System with PC

コントローラー、および制御PC
Dynamic Force Control Card

ACモード、FM-AFM、MFM、electrostatic study、SNOMに対応

High Spec AFM

試料表面を光学顕微鏡（光学カメラ）で観察可能であり、液中計測にも対応した高性能モデル。

計測モード

*AFM : Contact mode、Dynamic mode、Jumping mode、Frequency Modulation、Force Mapping、Lateral Force mode
Optical Stage for Optical Microscopy Combination

簡易除振機能付き
グラスカバー

ガス雰囲気制御、防音用
XY Movement AFM Head

XY移動ステージ付き(探針とサンプルの位置調整)
Cantilever Holder and Cantilever Exchange Bay

ヘッドへの固定が簡易（磁石による）なカンチレバーホルダーとカンチレバー交換用ベイ
Liquid Cell

液中観察用セル
Vertical Access Optical Microscope for Optical Visualization of the Scan Area

サンプル可視化用カメラ、実体顕微鏡
Short Scanner

ショートスキャナ(10um x 10um x 2um)
Long Scanner

ロングスキャナ(70um x 70um x 12um)
HALCYONICS MICRO 40

アクティブ除振台
Dulcinea Control System with PC

コントローラー、および制御PC
Dynamic Force Control Card

ACモード、FM-AFM、MFM、electrostatic study、SNOMに対応

High Spec MFM (磁界内測定対応)

非磁性素材を用い強磁界内でのMFM計測を可能とした高性能MFMモデル。

計測モード

*AFM : Contact mode、Dynamic mode、Jumping mode、Frequency Modulation、Force Mapping、Lateral Force mode

*MFM
Amagnetic Optical Stage

簡易除振機能付き非磁性素材ステージ
Amagnetic MFM Head

非磁性素材MFMヘッド
Cantilever Exchange Bay

カンチレバー交換用ベイ
Amagnetic Flat Cantilever Holder

非磁性素材カンチレバーホルダ
Amagnetic MFM Short Scanner

非磁性素材ショートスキャナ(10um x 10um x 2um)
Amagnetic MFM Long Scanner

非磁性素材ロングスキャナ(70um x 70um x 12um)
Dulcinea Control System with PC

コントローラー、および制御PC
Dynamic Force Control Card

ACモード、FM-AFM、MFM、electrostatic study、SNOMに対応

その他　オプション製品
Large Samples AFM Head

大型サンプル（75mm×75mm×25mm）用AFMヘッド
Closed-loop Long Scanner and Electronics

XY=70μm、Z=12μm
Closed-loop MFM Long Scanner and Electronics

XY=70μm、Z=12μm
Ultra Long Closed-loop MFM Long Scanner and Electronics

オープンループ：XY=140μm
クローズドループ：XY=100μm
Large Samples Optical Stage

Large Samples AFM Headと組み合わせて大型サンプル観察を可能に
Complementary Dynamic Force Control Card

KFM (Kelvin Force Microscopy) 測定用拡張ボード
Dynamic Card for Conductance

Conductance Maps (dI/dV) 測定用拡張ボード
Personalized Cantilever Holder

カラーカンチレバーホルダー(様々な使い分けに)
Calibration Sample

キャリブレーション用サンプル
Cantilevers

各種カンチレバー
STM Tips

STM 計測用 Pt/Ir チップ

 

NANOTEC社 SPMの主な仕様

ＡＦＭ観察モード コンタクトモード、ダイナミックモード、ジャンピングモード(パルスフォースモード)、周波数変調モード(FM-AFM)、フォース測定、フォースボリューム、摩擦力モード(LFM)
各種測定 STM、電気特性計測、磁気力測定、リソグラフ・マニピュレーション
サンプルサイズ XY：25×25mm, t：7mm（標準）
XY：75×75mm, t：25mm（オプション）
OS Windows XP

※仕様・デザインは予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。



 

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