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SXM ACTIVE（マルチプローブ顕微鏡）
カスタマイズ可能な走査型マルチプローブ顕微鏡
～ナノレベルでの表面形状/電気的特性の同時測定～
SXM ACTIVE（マルチプローブ顕微鏡）
本走査型マルチプローブ顕微鏡は、複数のプローブを擁し、ナノレベルにおける表面凹凸形状や電気的特性の同時測定をすることができます。
ＡＦＭプローブは面倒な光軸調整が不要で、初めての方でも操作が簡単に行える自己検知型プローブを採用しています。
本顕微鏡は生体分野では、ナノ表面凹凸形状と分子間相互作用の解析、工業製品分野ではナノ表面凹凸形状と表面物性評価と様々な要求に対応することができる装置です。
自己検知型プローブNANOSENSORS社製 A-probe
SXM ACTIVEの特長
ナノレベルにおける同時測定
- 表面凹凸形状/電気的特性の同時測定ができます。
複数プローブ測定
- 複数（2～4）のプローブを擁し、400nm以下での同時近接測定ができます。
測定機能のモジュール化
- 必要十分な性能を有する各モジュール（ＡＦＭ機能、ＳＴＭ機能、その他計測機能）をお選びいただけます。
自己検知型プローブ
- 面倒な光軸調整が不要で、初めての方でも簡単に操作ができます。
- レーザ光を用いないため、蛍光観察との複合化も容易です。
最適システムの提案
- お客様のニーズに合わせて、最適なシステムを提案いたします。
２つのプローブで同時測定を行った事例のご紹介*
右図より、プローブ間約400nmの近接同時測定が可能です。
SXM ACTIVEの主な仕様
| プローブ数 | 2～4個 |
|---|---|
| 測定機能 | AFM/STM/その他計測機能 |
| スキャンサイズ | XY: 50x50 μm, Z: 5 μm (変更可） |
| サンプルサイズ | 最大：20×20mm, t：2mm |
| 環境 | 大気中（真空中：要ご相談） |
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